Udział skanowania 3d w procesie drukowania 3d

Udział skanowania 3d w procesie drukowania 3d

CT_tomografia-komputerowa

Jesteśmy świadkami coraz większej industrializacji wytwarzania przyrostowego. Dziś drukowanie 3D przez wiele branż nie jest wykorzystywana już tylko  do projektowania prototypów na małą skalę, ale także w procesach optymalizacji produkcji, czy wykonywania wyrobów gotowych. Niezawodne procesy kontroli jakości – już od walidacji materiałów, przez skanowanie 3D geometrii, aż po końcową ocenę w kompleksowym oprogramowaniu kontrolnym możliwe są dzięki innowacyjnym optycznym systemom pomiarowym 3D firmy GOM.

Skanowanie 3D

Posługując się innowacyjnymi technologiami, skanowanie 3D umożliwia:

 

  • precyzyjną kontrolę jakości części drukowanych 3D;
  • pomiar zniekształceń części;
  • efektywne przetwarzanie zebranych danych pomiarowych;
  • szybką walidację wyrobów.
control-stom-2022

4 korzyści dla użytkownika

Optyczne systemy pomiarowe GOM są połączeniem zaawansowanego sprzętu i innowacyjnej technologii, przeznaczonym do stawiania czoła nawet najbardziej wymagającym zadaniom. Skanowanie 3D na przestrzeni ostatnich lat stało się ważnym elementem kontroli procesów produkcyjnych w przemyśle. Dziś przedstawiamy cztery korzyści dla użytkownika, korzystającego z jego funkcjonalności w drukowaniu 3D.

control-stom-2022

1. Szybka i łatwa inspekcja wydruków 3D

Drukowanie 3D na zawsze odmieniło przepływ pracy w setkach przedsiębiorstw na całym świecie. Skanowanie 3D może sprawić jednak, iż łatwiejsza oraz znacznie szybsza stanie się także sama inspekcja wydrukowanych części. Skanery 3D takie jak np. GOM Scan 1 umożliwiają szybą digitalizację, zebranie danych w krótkim czasie oraz inspekcję pomiarową geometrii do których należy np. grubość ścianek, czy płaskość. W ciągu zaledwie 25 sekund możemy otrzymać kompletny skan wydrukowanej części, umożliwiający porównanie jej do modelu CAD. Dzięki intuicyjnemu interfejsowi w oprogramowaniu GOM Inspect, otrzymane dane w trakcie pomiaru służą do analizy jakościowej geometrii.

2. Prosta naprawa złamanych części

Czy naprawa uszkodzonych elementów bez dostępnego modelu CAD i części zamiennych jest w ogóle możliwa? Dzięki systemom pomiarowym marki GOM odpowiedź na to pytanie brzmi – tak! Od uzyskania pliku produkcyjnego w formacie stl dzieli nas jedynie szybkie skanowanie 3D i przejście przez kilka prostych kroków w oprogramowaniu. Posługując się uzyskanymi w trakcie pomiaru danymi możliwe jest szybkie kopiowanie i zastąpienie uszkodzonej części. Dziś cyfrowa duplikacja części, umożliwia wygenerowanie pliku bezpośrednio do drukarki 3D  w zaledwie kilka minut, a wszystko to dzięki technologii skanowania 3D od GOM.

3. Oszczędność czasu i środków Twojej firmy

Enable everyone to make anything to hasło, które przyświeca misji demokratyzacji druku 3D. Dziś dążymy do tego, aby znajdujące się niegdyś poza zasięgiem finansowym technologie, były łatwo dostępne dla większości społeczeństwa. Części wykonane w wysokiej jakości na drukarkach 3D, wymagają przejścia przez proces kontroli jakości, który możliwy jest właśnie dzięki precyzyjnym skanerom 3D. Prototypowanie prostej części tradycyjnymi metodami może trwać nawet do kilku tygodni, lecz dzięki skutecznej współpracy technologi skanowania 3D i druku 3D, proces ten możliwy jest już w kilka godzin. W produkcji seryjnej musimy mieć pewność, iż każda kolejna, wydrukowana część spełnia wszystkie wymagania, pewność opartą na danych, otrzymanych w procesie skanowania 3D.

control-stom-2022

4. Niepowtarzalny design i wysoka jakość

Produkcja addytywna pomaga także w realizacji wymagań klientów, oczekujących od wydrukowanych części najlepszej jakości wytwarzania przyrostowego. Wsparcie w jej uzyskaniu oferuje metrologiczne oprogramowanie GOM Inspect, które umożliwia przygotowanie odpowiednich szablonów i raportów pomiarowych. Natomiast optyczne systemy pomiarowe GOM zapewniają szybkie i powtarzalne pomiary. Technologia drukowania 3D z biegiem czasu wciąż zyskuje na popularności, także ze względu na niepowtarzalny design produktów. Już dziś na rynku zaobserwować możemy firmy, wprowadzające do swoich wyrobów elementy, pochodzące z druku 3D np. siodełka i rączki rowerowe, podeszwy butów czy okulary narciarskie i inne akcesoria sportowe.

control-stom-2022

PREZENTACJA ROZWIĄZANIA DLA DRUKOWANIA 3D

Jeżeli jesteś zainteresowany prezentacją systemów pomiarowych firmy GOM, skanerów 3D i rozwiązań dla branży drukowania 3D skontaktuj się z Nami poprzez formularz kontaktowy lub wyślij do nas e-mail na adres: office@lenso.com.pl

Seminarium naukowe Innowacyjne rozwiązania w analizie chemicznej i mechanicznej materiałów

Seminarium naukowe Innowacyjne rozwiązania w analizie chemicznej i mechanicznej materiałów

CT_tomografia-komputerowa

We współpracy z firmą SHIM-POL oraz Władzami Zachodniopomorskiego Uniwersytetu Technologicznego serdecznie zapraszamy na  seminarium naukowe: Innowacyjne rozwiązania w analizie chemicznej i mechanicznej materiałów.

Termin seminarium

21 czerwca 2022, rozpoczęcie gdz. 8:30

Miejsce

Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie
Centrum Dydaktyczno-Badawcze Nanotechnologii
Al. Piastów 45, 71-311 Szczecin
Sala Audytorium, parter

Rejestracja

Zapraszamy do skorzystania z formularza rejestracyjnego. Rejestracja trwa do dnia 10 czerwca 2022 r. Liczba miejsc jest ograniczona. Seminarium jest całkowicie bezpłatne.

Agenda seminarium

8:30 –   9:00 Rejestracja (30 min)
9:00  –  9:40 Badania jakości materiałów stosowanych w nauce i przemyśle – Jan Podgórski
9:40 – 10:10 Nowatorskie rozwiązania Shimadzu w analizie pierwiastkowej – Dr Rafał Głaszczka
10:10 – 10:50 Zastosowania optycznych systemów pomiarowych 3D marki GOM do pomiarów materiałowych oraz obiektów – Dr Marcin Kneć
10:50 – 11:20 Przerwa kawowa (30 min)
10:20 – 11:50 Techniki odbiciowe w spektroskopiach FTIR, UV-Vis oraz w spektrofluorymetrii – teoria i praktyka – Dr Rafał Głaszczka
11:50 – 12:20 Ultraszybkie obrazowanie w analizie materiałów kompozytowych – Jan Podgórski
12:20 – 13:10 Lunch (50 min)
13:10 – 13:40 Szybka i bezwzorcowa analiza próbek metalicznych na spektrometrze EDX-7000P firmy Shimadzu – Dr Sebastian Szopa
13:40 – 14:10 FTIR-ATR szybkie i wygodne narzędzie do określania składu – Dr Rafał Głaszczka
14:10 – 15:00 Analiza próbek z wykorzystaniem maszyny wytrzymałościowej Shimadzu AGX-V z systemem GOM – ARAMIS od firmy Lenso – Dr Marcin Kneć i Jan Podgórski

SERDECZNIE ZAPRASZAMY!

control-stom-2022

ZEISS Reverse Engineering 4 porady ułatwiające pracę

ZEISS Reverse Engineering 4 porady ułatwiające pracę

CT_tomografia-komputerowa

ZEISS Reverse Engineering (ZRE) to oprogramowanie do inżynierii odwrotnej i korekty narzędzi, które w zmodernizowanej wersji na rynek trafiło z ramienia naszego partnera ZEISS latem 2019 roku. Wyposażone w dodatkowe moduły takie jak Tool Correction czy Volume Calculation, umożliwia użytkownikowi wybór opcji, dostosowanych wprost do jego potrzeb. Przygotowane przez nas 4 porady sprawią jednak, iż praca z tym niezwykle intuicyjnym oprogramowaniem stanie się jeszcze łatwiejsza.

control-stom-2022

1.  Łatwo wyszukuj narzędzia

Do ulubionych rozwiązań wszystkich początkujących użytkowników oprogramowania należy wyszukiwarka, która na podstawie wprowadzonych słów kluczowych, umożliwia odnalezienie konkretnego narzędzia. W celu optymalizacji procesu pracy warto skorzystać z możliwości zapisania najczęściej wybieranych narzędzi. Łatwy i szybki dostęp do nich uzyskuje się za pomocą przyciśnięcia prawego przycisku myszki lub jednego kliknięcia w ikonę gwiazdki. “Ulubione” funkcjonalności automatycznie zapisują się w naszych zakładkach, umożliwiając korzystanie z nich w każdej kolejnej instancji oprogramowania.

control-stom-2022

2. Używaj narzędzi do zadań specjalnych

Użytkownicy oprogramowania mogą uzyskać zupełnie nowy ogląd na zeskanowaną część, dzięki zastosowaniu narzędzi przezroczystości. Funkcjonalność ta jest niezwykle przydatna przy określaniu przekrojów elementu. Łatwiejsza staje się także praca przy nawet najbardziej rozbudowanych projektach. Dzięki narzędziom wyróżnienia w prosty i szybki sposób, wyszczególnimy specyfikację konkretnego fragmentu. Ponadto intuicyjny interfejs oprogramowania umożliwia pomiar części oraz poznanie ich przybliżonych wartości jeszcze w fazie wyboru parametrów.

control-stom-2022

3.  Usprawnij pracę nad raportem

ZEISS Reverse Engineering do łatwego tworzenia dokumentacji, oferuje osobną funkcjonalność. Narzędzie migawki, znajdujące się w dolnej części interfejsu, umożliwia szybkie i proste zapisanie pliku w postaci “screenshota” w dedykowanym temu zadaniu folderze. Kluczem do przygotowania skrupulatnego raportu jest jednak dokładna analiza danych, która staje się jeszcze bardziej przyjazna dla użytkownika dzięki możliwości dopasowania ekranu. Już za pomocą jednego kliknięcia w dedykowaną ikonę ekran zostanie wyśrodkowany, a widok dopasowany do obrabianego elementu.

 

4.  Wybierz łatwiejsze rozwiązanie

W życiu nie zawsze warto iść na skróty, jednak ZEISS Reverse Engineering stanowi wyjątek od tej reguły. W celu zapewnienia jak najbardziej intuicyjnej nawigacji po oprogramowaniu, powstała lista przydatnych skrótów, dostępnych w przewodniku każdego użytkownika. Umożliwiają one szybkie odnalezienie potrzebnych informacji oraz dbają o komfort i optymalizację czasu pracy każdego z nas.

ZEISS Reverse Engineering to oprogramowanie oferujące narzędzia do inżynierii odwrotnej. Umożliwiają one łatwą ​​rekonstrukcję powierzchni i generowanie modeli CAD na podstawie siatki trójkątów lub chmury punktów zeskanowanych wcześniej części. Użytkownik ZRE zyskuje więc nie tylko gwarancję najwyższej jakości odwzorowanych wyników, ale także niezawodne wsparcie na każdym etapie swojej pracy.

PREZENTACJA OPROGRAMOWANIA DO INŻYNIERII ODWROTNEJ

Jeżeli jesteś zainteresowany prezentacją oprogramowania do inżynierii odwrotnej skontaktuj się proszę poprzez dedykowany formularz kontaktowy i wybierz oprogramowanie ZEISS ZRE. Przedstawimy jedno z najtańszych rozwiązań do parametrycznego projektowania na podstawie danych ze skanowania 3D.

Zobacz to co niewidoczne, tomografia komputerowa CT w zastosowaniach

Zobacz to co niewidoczne, tomografia komputerowa CT w zastosowaniach

CT_tomografia-komputerowa

Przemysłowa tomografia komputerowa (CT) to technologia pomiarowa umożliwiająca kompletną wizualizację 3D Twojej części obejmującą wewnętrzne struktury i wady bez ingerencji w materiał. Proces pomiaru części z wykorzystaniem promieniowania rentgenowskiego gwarantuje wysoką dokładność oraz możliwość uzyskania kompletnych danych pozwalających na analizę każdego zakamarka badanego detalu.

Tomografy metrologiczne ZEISS METROTOM

Tomografy firmy ZEISS serii METROTOM są systemami metrologicznymi służącymi m.in. do pomiarów trudno dostępnych, zasłoniętych geometrii. Są to cechy niemożliwe do pomiaru konkurencyjnymi technologiami. CT eliminuje potrzebę kosztownego i czasochłonnego cięcia części które na dodatek wpływa na wyniki pomiarów.

control-stom-2022

Analiza wad materiałowych

Poza wysoce precyzyjnym nieniszczący pomiarem geometrii zewnętrznej i wewnętrznej technologia tomografii komputerowej CT pozwala na analizę wad takich jak pęcherze, deformacje, pory, pęknięcia itp. przy użyciu tego samego zestawu danych.

control-stom-2022

Pomiar wielu części na raz

Dzięki możliwości prześwietlania wielu części na raz jednostkowy czas pomiaru detali zmniejsza się wielokrotnie w porównaniu z innymi technologiami pomiarowymi. CT umożliwia zarówno pomiar, jak i analizę statystyczną detali ze wszystkich gniazd formy w tym samym czasie, który jest potrzebny do zmierzenia pojedynczej części, a cały proces trwa zaledwie kilkanaście minut. Dodatkowo wszystkie działania mogą zostać zautomatyzowane gwarantując błyskawiczne uzyskanie raportów z dokładnych i powtarzalnych pomiarów.

control-stom-2022

Pomiar CT w bardzo wysokiej rozdzielczości

Systemy tomografii są uniwersalnym rozwiązaniem pozwalającym na pomiary jednego detalu w bardzo wysokiej rozdzielczości i niewielkiej objętości pomiarowej lub wielu detali na raz. Przy pomiarach więcej niż jednej części jednocześnie pole pomiarowe zostaje rozszerzone przy zachowaniu bardzo wysokiej rozdzielczości.

control-stom-2022

Metrologiczne tomografy komputerowe ZEISS METROTOM zgodne z VDI/VDE 2630

Metrologiczne systemy tomografii komputerowej firmy ZEISS posiadają specyfikację dokładności zgodną z VDI/VDE 2630. Wszystkie parametry niepewności pomiarowych MPE takie jak E, SD, PS, PF są zdefiniowane i weryfikowane w procesie kalibracji przeprowadzanej okresowo na danym tomografie. Wieloletnie doświadczenie inżynierów w zakresie projektowania tych systemów zapewnia gwarancję pewnych wyników. Ponadto testy zgodności systemu są w pełni transparentne i można je poddać dodatkowej weryfikacji.

control-stom-2022

System pozwalający na więcej niż tylko jeden pomiar

Do głównych aplikacji w których jest wykorzystywana tomografia komputerowa należy wykrywanie wad materiałowych takich jak porowatości, czy wtrącenia innych materiałów. Technologia CT umożliwia ich pomiar oraz analizę.

control-stom-2022

Analiza złożeń

Zaletą posiadania całkowitej geometrii detalu jest możliwość analizy złożeń. Kiedy wewnątrz badanego obiektu znajduje się kilka komponentów o różnych gęstościach można je odseparować, analizować osobo lub kontrolować pasowanie między nimi.

control-stom-2022

Porównanie detalu z modelem CAD

Porównanie detalu z modelem CAD lub inną referencją nie stanowi wyzwania. Dzięki kolorystycznym mapom odchyłek w łatwy sposób można znaleźć wszystkie niezgodności w aktualnych detalach.

control-stom-2022

Przekroje przez element

Przekroje przez element umożliwiają nie tylko wykrycie wad wewnętrznych ale również obejrzenie struktury materiału wewnątrz. Połączenie danych siatki mesh z danymi wolumetrycznymi pozwala na zdobycie pełnych informacji o mierzonym detalu.

control-stom-2022

Analiza detali wykonanych z kilku materiałów

Systemy  tomografii umożliwią wskazanie materiałów o różnych gęstościach. Wydzielone materiały można wskazywać kolorystycznie.

control-stom-2022

PREZENTACJA SYSTEMU

Sprawdź czy metrologiczny tomograf komputerowy ZEISS METROTOM spełnia oczekiwania i zobacz jak łatwo pracuje się w jednym środowisku GOM Suite. Otrzymaj wysokiej jakości dane pomiarowe i sprawdź je w darmowym oprogramowaniu GOM. Prześlij do nas części, a za darmo wykonamy próbny pomiar lub umów się na prezentację.

LENSO członkiem Klastra Metrologicznego

LENSO członkiem Klastra Metrologicznego

Header_klaster_metrologiczny_lenso_2022

6 kwietnia 2022 rok to data, która na stałe zagości na kartach historii metrologii w Polsce. W tym właśnie dniu nastąpiło uroczyste podpisanie deklaracji o współpracy w celu utworzenia Klastra Metrologicznego. Wśród sygnatariuszy porozumienia znalazły się zarówno instytucje państwowe – Główny Urząd Miar, uczelnie techniczne z Politechniką Warszawską na czele oraz firmy takie jak Lenso

Kongres METROLOGIA – szansa i wyzwanie przyszłości

Kongres powstały z inicjatywy prezesa Spółki Targi Kielce – dr. Andrzeja Mochonia, prezesa Głównego Urzędu Miar – prof. Jacka Semaniaka oraz rektora Politechniki Świętokrzyskiej – Zbigniewa Koruby, zgromadził wokół siebie ogromne zainteresowanie wśród potentatów branży metrologicznej. Do deklaracji przystąpiło już ponad 30 partnerów, a jak podkreśla sam GUM, przedsięwzięcie wciąż otwarte jest dla kolejnych chętnych podjęcia współpracy instytucji oraz firm. Kongres zorganizowany w ramach targów Przemysłowej Techniki Pomiarowej CONTROL-STOM przewidywał także czas na wykłady, podkreślające ogromny wpływ metrologii 3D na przyszłą gospodarkę naszego państwa.

control-stom-2022

Lenso jednym z sygnatariuszy polskiego Klastra Metrologicznego

Podczas tego niezwykle ważnego dla branży metrologicznej w Polsce wydarzenia, Lenso reprezentował prezes spółki – Marek Radke.

Mamy nadzieję na pogłębienie współpracy z innymi członkami Klastra. Wspólnie z Głównym Urzędem Miar zależy nam także na wypracowaniu nowych standardów do integracji optycznych skanerów 3D w środowisku metrologicznym – tak zapytany o kilka słów na temat dołączenia do Klastra, wypowiedział się Marek Radke – Prezes Zarządu Lenso.

Metrologia 3D już dziś wspiera procesy produkcyjne, jak i kontrolę jakości w licznych gałęziach polskiego przemysłu, a formacja Klastra umożliwi jej dalszy oraz szybszy rozwój.

Główne założenia deklaracji

Celem przewodnim kolektywu jest kreowanie optymalnych warunków rozwoju firm z branży metrologicznej. Powstanie Klastra połączone jest także z budową Świętokrzyskiego Kampusu Laboratoryjnego, który stanowić będzie niezwykle ważne wsparcie w zakresie badań i rozwoju dla wszystkich członków Klastra. Kieleckie zaplecze laboratoryjne umożliwia połączenie nauki, biznesu i przemysłu, które działając w symbiozie, przyczynią się do znacznego rozwoju gospodarki.

control-stom-2022

Klaster Metrologiczny, który dzisiaj powstał jest w moim odczuciu kontynuacją programu “Polska metrologia”(…). Nas bardzo cieszy fakt, iż powstają programy, otwierające GUM na środowisko naukowe. W tej chwili do tego grona dołączają również firmy, dlatego wydaje mi się, że wspólnie jesteśmy w stanie wiele zrobić dla polskiej metrologii – tak o Klastrze wypowiada się prof. Paweł Woźniak z Politechniki Warszawskiej.

control-stom-2022

Cieszymy się, iż Lenso jako firma dostarczająca rozwiązania metrologiczne dla nauki i przemysłu może brać udział w tak innowacyjnym projekcie, którego wszystkich członków łączy jedna, wspólna misja – rozwój polskiej metrologii.